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| 开漏双向IO在模拟串行通信和IO自检方面的优势 |
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雁塔菜农 发表于 2008-1-16 22:30:00 |
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原文发表于: http://bbs.21ic.com/club/bbs/list.asp?boardid=49&t=2832973
hotpower 发表于 2008-1-16 22:15 ST MCU ←返回版面    |
10楼： 开漏双向IO在模拟串行通信和IO自检方面的优势 |
8031的准双向IO的成功,也支持了它能在业界存活的时间更长,当然AT89C51
是后继者中最大的功臣~~~
准双向IO实际就是带上拉功能的开漏输出且能读写的双向IO,它在速度允许时,
几乎可以模拟任何串行接口,特别是将SPI接口的MISO和MOSI短接变为单线双向
接口SIO.
虽然它的拉电流很小,但对保护IO不受损坏起到了关键的作用.
如果大家都是这种准双向的IO接口,那么大家线与又有谁害怕IO被毁呢???
所以这种准双向IO的优点就可以实现IO的自检,在配合下面的"电路"即可实现
IO不怕接VCC,不怕接地,不怕混线,不怕断线(过孔未沉铜)~~~
即可在一片IO上用铁棍"弹钢琴"~~~
"电路"
V---自恢复保险---+----LDO----MCU---IO <---搞破坏(VCC,GND,...)
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瞬态拟制器
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GND
STC单片机IO管脚毁坏动态自检程序
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